Baanbrekende metrologie - inspectie oplossingen voor halfgeleiderindustrie

Nearfield Instruments, een spin-off van de Nederlandse kennisinstelling TNO, ontwikkelt oplossingen om kritieke 3D-nanostructuren op een niet-destructieve manier te meten tijdens het fabricageproces van microchips.

Trefwoorden: #halfgeleider, #inspectie, #instrument, #investering

Lees verder

Nieuws

( Foto: Nearfield Instruments )

ENGINEERINGNET.BE - Het meten van van kritieke 3D-nanostructuren is essentieel om goede chips te kunnen maken, die bijvoorbeeld het geheugen vergroten of processen in laptops, smartphones en datacenters versnellen.

De huidige meetoplossingen bieden echter niet de juiste resolutie, zijn te traag of vertonen destructief gedrag. Nearfield Instruments ontwikkelde daarom het QUADRA 3D metrologiesysteem.

Dit is momenteel het enige systeem ter wereld dat metrologie en inspectie met zowel de benodigde nauwkeurigheid als snelheid kan realiseren. Daardoor kunnen halfgeleiderfabrieken enorme kosten besparen. Zij hebben minder e-waste en een betere controle op hun productieproces.

Het Nederlandse Deep Tech Fonds gaat nu 10 miljoen euro investeren in Nearfield Instruments, als onderdeel van een Series C financieringsronde van in totaal 135 miljoen euro.

Met deze nieuwe investeringsronde kan Nearfield Instruments verder opschalen. Naast lead investors Walden Catalyst en Temasek, investeren ook M&G, Innovation Industries, het Strategic Partners Fund en ING in deze ronde.