Satelliet maakt indrukwekkende 3D kaart van Melkwegstelsel

De satelliet GAIA is in staat gebleken om een uitzonderlijk nauwkeurige driedimensionale kaart van 1,7 miljard sterren in de Melkweg te leveren, dankzij revolutionaire meetmethoden.

Trefwoorden: #3D, #Basic Angle Monitoring Opto Mechanical Assembly, #European Space Agency, #GAIA, #Melkweg, #TNO, #WaveFront Sensor Opto Mechanical Assembly, #Wim Gielesen

Lees verder

research

( Foto: © ESA )

ENGINEERINGNET.BE - GAIA werd op 19 december 2013 gelanceerd door het European Space Agency om de Melkweg 3D in kaart te brengen en informatie te verzamelen over de samenstelling van sterren en de aanwezigheid van planeten. Nu, vijf jaar later, levert GAIA een uitzonderlijk nauwkeurige driedimensionale kaart van 1,7 miljard sterren in de Melkweg.

Deze satelliet kan extreem scherp in het heelal kijken, dankzij een aantal onderdelen. De WFS OMA (WaveFront Sensor Opto Mechanical Assembly) ondersteunt de uitlijning van de telescoop. De BAM OMA (Basic Angle Monitoring Opto Mechanical Assembly) maakt het mogelijk om metingen te verrichten met een extreem hoge resolutie, vergelijkbaar met het onderscheiden van een haar op duizend kilometer afstand.

De verwachting is dat de satelliet elke dag in de Melkweg ongeveer 100 nieuwe asteroïden, 10 nieuwe sterren met planeten, 50 nieuwe exploderende sterren in andere melkstelsels en 300 nieuwe verre quasars zal ontdekken.

Onder andere de Nederlandse kennisinstelling TNO heeft onderdelen aangeleverd voor deze satelliet. Projectmanager ing. Wim Gielesen: 'Het meetinstrument meet de hoeken tussen sterren met behulp van twee telescopen die zijn ingesteld op een vaste basishoek van 106,5 graden. Wil je de ruimte correct in kaart brengen, dan moet je wel zeker weten dat het de sterren zijn die bewegen en niet het meetinstrument.'

'Daarom controleert het Basic Angle Monitoring-systeem (BAM) iedere vijf minuten de basishoek tussen de spiegels,' aldus Gielesen. 'De BAM schiet twee paar parallelle laserbundels naar de telescoopspiegels. Die komen terug op een detector, waarbij twee interferentiepatronen ontstaan. De eventuele verschuiving van die patronen wordt met een nauwkeurigheid van 0,5 microboogseconden gemeten, waarna de data die van de spiegels komt wordt gecorrigeerd voor veranderingen in de basishoek.'

De componenten van de BAM OMA zijn ontwikkeld in nauwe samenwerking met de TU Eindhoven en met steun van het Netherlands Space Office.


Video: