ENGINEERINGNET.BE -- De onderzoeksgroep EMAT (Electron Microscopy for Materials Science) van Prof. dr. Staf Van Tendeloo, neemt de unieke microscoop X-Ant-EM in gebruik. De microscoop levert nog preciezere gegevens over de stofsamenstelling op. Met de ingebruikname van deze microscoop, die chemische analyses kan uitvoeren tot op atomair niveau, wordt deze verworven status nogmaals benadrukt.
Het onderzoek naar de nanostructuren van materialen is erg belangrijk voor bijvoorbeeld de ontwikkeling van nieuwe materialen, elektronica en medische therapieën. Sinds de ingebruikname van de Qu-Ant-EM (voorloper van de huidige X-Ant-EM ) in 2012 werden reeds 43 wetenschappelijke artikels gepubliceerd, waaronder verschillende in de prestigieuze tijdschriften zoals 'Nature'.
In 2010 konden we ons niet voorstellen dat we vandaag al een nieuwe, nog straffere microscoop in huis zouden hebben, dixit Van Tendeloo. De Qu-Ant-EM wordt bijna dag en nacht gebruikt. De onderzoeksgroep groeide op tien jaar tijd van 25 naar 60 wetenschappers, en ook de industrie doet steeds vaker beroep op onze expertise.
Omwille van het grote succes werden er sneller dan verwacht plannen gesmeed voor een nieuwe, nog krachtigere microscoop. Op maandag 10 juni werd de X-Ant-EM feestelijk in gebruik genomen.
“De X staat voor X-ray, de Ant voor Antwerpen en de EM voor Electron Microscopy”, verduidelijkt Van Tendeloo. “Ook deze microscoop werd ontwikkeld door de firma FEI in Eindhoven, en is in alle opzichten een uniek exemplaar.”
De X-Ant-EM werkt net zoals alle elektronenmicroscopen met versnelde elektronen. Die worden ‘afgevuurd’ op de bestudeerde stof en dit genereert X-stralen. Die X-stralen worden opgevangen in een detector en geanalyseerd.
De X-Ant-EM heeft echter niet één, maar vier detectoren ter beschikking om de teruggekaatste stralen op te vangen. Van Tendeloo: “Dat resulteert in een veel preciezere en snellere beeldopname van het onderzochte materiaal.
De snelheid van analyse is erg belangrijk. We zijn immers actief op nanoniveau: een verschuiving van een duizendste van een micrometer is een ramp. De beelden zijn ook haarscherp omdat de microscoop bovendien beschikt over een gecorrigeerde lens, die zelf correcties uitvoert op de beelden. De foutenmarge wordt dus almaar kleiner.
(LVD)
